（負性阻抗測試）
在晶振電路中的同等條件下，增大電容負載，會降低裕量；提高反向放大器的跨導，會增大裕量；晶振內阻越大，裕量越小。反之亦然。
在真實的大規模生產中，最常用的測試裕量的方法是負阻測試，具體操作步驟如下：
在晶振支路上串聯一個電阻，這個阻值的大小一般為3到5倍的晶振內阻（如果是醫療或汽車級別的應用，這個阻值應為5到10倍的晶振內阻），當加入這個負載電阻后，如果整個晶振電路還是可以正常起振，我們就基本上可以判定這個晶振拓撲是穩定的。要注意這個負載電阻僅僅是用于裕量測試，不可以存在于正式生產時的電路板上。
當系統通過了負性阻抗測試，但發現晶振的振幅很小，會有影響嗎？
振幅小沒關系，晶振電路內部都有放大器，會保證晶振電路的可靠穩定工作。但如果在晶振管腳上看到了飽和現象，這時候就需要進行調整。
晶振電路內部是一個反相器，反相器工作在放大區，同時放大器的內部還并聯一個電阻，這個電阻構成了反饋電路，同時也是用來調整晶振的工作點。一般情況下，用戶不需要在外部電路再加入OSC1和OSC2的并聯電阻，但還是可以在需要的情況下，通過在外部并聯電阻（一般來說阻值為M級）來對放大器的工作點進行微調。另外一個方法是，在晶振的放大器輸出管腳上串一個電阻。這個電阻一般有兩個作用，一個作用是用來做選頻，另一個作用是限制晶振驅動電路的輸出電流，保證晶振工作在一個穩定的頻點上，不會因為電流過驅而把晶振燒壞。
